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半導體材料冷熱沖擊試驗箱

更新時間：2023-02-18

訪問量：1278

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

半導體材料冷熱沖擊試驗箱，模擬復雜的溫度變化環(huán)境，用于測試樣品在溫度變化環(huán)境下的性能變化。

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一、半導體材料冷熱沖擊試驗箱工作原理

通過內(nèi)置的溫控系統(tǒng)，控制內(nèi)部的溫度，從而模擬復雜的溫度變化環(huán)境，用于測試樣品在溫度變化環(huán)境下的性能變化。冷熱沖擊箱可以模擬多種溫度變化環(huán)境，如冷熱沖擊、溫度濕度沖擊、溫度濕度循環(huán)等。

二、半導體材料冷熱沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)

容量	內(nèi)箱尺寸（cm）	外形尺寸（cm）	型號	溫度范圍℃	總功率	降溫時間		升溫時間
80升	50×40×40	170×180×144	HE-LR-80S	-40～+150	21KW	-55℃	70min	150℃	40min
			HE-LR-80W	-55～+150	22KW	-65℃	80min
			HE-LR-80L	-65～+150	23KW	-75℃	90min
100升	60×40×40	180×180×144	HE-LR-100S	-40～+150	22KW	-55℃	80min	150℃	40min
			HE-LR-100W	-55～+150	23KW	-65℃	90min
			HE-LR-100L	-65～+150	25KW	-75℃	100min
150升	60×50×50	180×190×154	HE-LR-150S	-40～+150	28KW	-55℃	80min	150℃	40min
			HE-LR-150W	-55～+150	35KW	-65℃	100min
			HE-LR-150L	-65～+150	45KW	-75℃	100min
250升	70×50×50	190×200×164	HE-LR-250S	-40～+150	30KW	-55℃	80min	150℃	40min
			HE-LR-250W	-55～+150	40KW	-65℃	110min
			HE-LR-250L	-65～+150	50KW	-75℃	120min
高溫槽溫度范圍		+60℃～+200℃
溫度波動度		±2.0℃
溫度轉(zhuǎn)換時間		10S
溫度穩(wěn)定時間		3～5min（常溫～低溫度，常溫～高溫度）
內(nèi)箱材質(zhì)		SUS304鏡面不銹鋼
外箱材質(zhì)		SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理
冷凍系統(tǒng)		冷凍機組為復疊式，壓縮機（進口法國泰康或進口德國比澤爾），R404A、R23環(huán)保冷媒
冷卻方式		水冷或風冷（可選擇）
控制器系統(tǒng)		可程控彩色觸摸式溫度控制器（TEIP880S或OYO8226）
標配		測試1個，樣品架2個
使用電源		AC 三相五線 380V 50HZ
保護裝置		無熔絲開關(guān)，壓縮機過載保護，超溫保護，風機過載保護，保險絲
聯(lián)機軟件		R232、485或USB接口